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外径千分尺/测厚仪/厚度计

RIFTEK厚度测量系统RF580

产品介绍

该系统可以支持无限数量的厚度控制点。每个控制点是根据Scheme #1(图 1,左)安装的一个传感器或根据Scheme #2(图 1,右)安装的两个传感器。根据Scheme #1,材料厚度定义为距放置材料的基面的距离与到传感器测量的材料上表面的距离之间的差值。 传感器的位置相对于基面进行校准。

指示装置设计用于接收来自传感器的信息,分析和显示测量结果。激光传感器须通过安装在指示设备外壳上的特殊连接器进行连接。带触摸屏的 LCD 显示屏显示信息。当厚度值超过公差时,操作员将收到声音警报通知。厚度值输出基于对从传感器接收的值的分析,并针对给定的平均时间计算,并以等于平均时间的周期重复。

 

性能特点

  • 该系统是指非接触式激光测厚设备,用于精确测量带、板、板等片材的厚度。
  • 它是一个独立的软件和硬件系统,包含激光传感器和指示装置。
  • 可以针对特定任务更改系统参数。
  • 该系统可以包含激光三角测量传感器 RF603 系列。
  • 该系统可以包含绝对式线性编码器 RF25x 系列。

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